近日，樂(lè)葉光伏常規(guī)單晶組件在隨機(jī)抽檢條件下，順利通過(guò)TÜV萊茵PID測(cè)試，在300小時(shí)的嚴(yán)苛條件下，全部樣品測(cè)試衰減率均低于1%，達(dá)到業(yè)界頂尖水平。

TÜV萊茵依據(jù)“2 PfG 2387/04.14”標(biāo)準(zhǔn)，隨機(jī)抽檢了樂(lè)葉光伏高效單晶組件進(jìn)行PID測(cè)試，在+1000V / 300h / 85°C /相對(duì)濕度85%、-1000V / 300h / 85°C / 相對(duì)濕度85%測(cè)試條件下，結(jié)果顯示所有樣品功率衰減低于1%，并且順利通過(guò)濕漏電測(cè)試。

業(yè)內(nèi)通用標(biāo)準(zhǔn)是在溫度60°C、相對(duì)濕度85%、電壓±1000V的環(huán)境下進(jìn)行96個(gè)小時(shí)PID測(cè)試，組件功率衰減不超過(guò)5%即為合格，衰減在2%以內(nèi)即為優(yōu)秀標(biāo)準(zhǔn)。樂(lè)葉光伏組件測(cè)試時(shí)間超過(guò)通用標(biāo)準(zhǔn)3倍以上，測(cè)試溫度比通用標(biāo)準(zhǔn)高出25°C，衰減率不到1%，功率穩(wěn)定性表現(xiàn)出眾，證實(shí)了在高溫、高濕環(huán)境下優(yōu)異的可靠性和穩(wěn)定性。

PID全稱“Potential Induced Degradation”，即“電勢(shì)誘導(dǎo)衰減”。光伏產(chǎn)業(yè)界近年來(lái)對(duì)這一現(xiàn)象高度的重視，原因是PID現(xiàn)象會(huì)導(dǎo)致組件產(chǎn)生嚴(yán)重的功率損失，開(kāi)壓和填充因子顯著下降，組件EL變黑，甚至是完全變黑。NREL對(duì)PID現(xiàn)象進(jìn)行過(guò)深入的研究，并且對(duì)其形成的機(jī)理有過(guò)詳細(xì)的推斷，PID的產(chǎn)生和組件封裝材料、電池減反射膜的特性以及使用環(huán)境的溫濕度密切相關(guān)。

樂(lè)葉光伏堅(jiān)持采用半導(dǎo)體級(jí)品質(zhì)的單晶硅片生產(chǎn)電池和組件，幫助客戶降低電站投資成本、提高發(fā)電收益，與此同時(shí)，嚴(yán)格選用高標(biāo)準(zhǔn)的背板、EVA、玻璃材料，并通過(guò)電池工藝改善控制功率衰減損失，為高效率單晶組件增加高可靠品質(zhì)保障。