徐偉平 博士 （浙江大學）

首先介紹了現有鏡面面形主要的檢測方法：VSHOT、攝影測量法及條紋反射法。其次，利用三維掃描系統對碟式二次聚光鏡鏡面進行了檢測，用掃描得到的三維數據進行光學模擬，與實驗得到的數據進行對比，在考慮各種因素的影響上，基本上取得一致；利用理論模型進行相應的模擬，并與掃描數據和實測數據比較，評價其聚光性能的高低。通過掃描數據與理論模型幾何結構的聚焦能流密度相對比的方法，可找到聚光性能偏離理想情況的關鍵原因，為聚光器的調節提供了參考。(供稿：國家太陽能光熱產業技術創新戰略聯盟)