朱會賓 博士 （中國科學院電工研究所）

在現有四種聚光器面形檢測方法中：攝影測量法、TOPHAT、激光偏折法及條紋反射法，條紋發射法由于其檢測系統設備簡易、檢測精度高、檢測速度快等優點受到了廣泛的關注。首先，介紹了基于相移技術和時間解包裹相位技術的條紋反射法的檢測原理；其次對檢測系統中涉及的系統標定進行了描述，同時基于Southwell模型的迭代算法對面形重構進行了分析。最后，搭建了檢測平臺，并開發了相應的檢測軟件。(供稿：國家太陽能光熱產業技術創新戰略聯盟)